Equipement

Caractérisation de système optiques

Métrologie avec analyseur de front d'onde achromatique rapide sur plusieurs longueurs d'onde (en particulier 445, 473, 543 et 635nm), sur systèmes imageurs ou non (collimateur, télescope, objectif photo ou micro, caméra...) avec diamètre de pupille de quelques mm à 500mm.

Caractérisation d’élément optique simple ou de systèmes complets, Infini-foyer ou autre conjugaison, Alignement en temps réel, Mesure dans le champ, Mesure de phénomènes transitoires

1100,00 € HT/jour

* Prix incluant 10% de commission Optitec Faire une demande de réservation

Précédentes réalisations

Mesure pour CNRS, ISRF, DGA...

Contrôle qualité des composants sous traités (lentilles, séparatrices, lames, plans…)

Contrôle de systèmes complexes ou de sous systèmes (F-Théta, micro-objectifs, collimateurs…)

Alignement de systèmes optiques sur plateforme

Analyse des performances de composants optiques imageurs (photo, cinémas, astronomie…)

Contrôle de surface (surfaces polies)

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Modalités d'exécution

Production d’un rapport de test présentant selon le cas la décomposition des aberrations en polynôme de Zernike ou Legendre, la courbure de champ, la MTF, la PSF et tout autre information nécessaire Mesures réalisée sur notre plateforme ou bien dans vos locaux

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